可靠性介紹
可靠性（Reliability）是對(duì)器件耐久力的描述，安路主要以JESD47為測(cè)試大綱，通過不同針對(duì)性的試驗(yàn)對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試考核，其可包括：
晶圓工藝相關(guān)的可靠性（HCI、BTI、TDDB、GOI、EM、SM……）
電路相關(guān)的可靠性(ESD、Latch-up、HTOL、LTOL……)
封裝相關(guān)的可靠性(PC、TCT、HTSL、(u)HAST……)
板級(jí)相關(guān)的可靠性（BTC……）
這些測(cè)試條件遠(yuǎn)比應(yīng)用場(chǎng)景嚴(yán)苛，通過激發(fā)潛在的半導(dǎo)體晶圓和封裝的薄弱點(diǎn)，用于剔除器件早期缺陷、檢驗(yàn)器件可靠性指標(biāo)、評(píng)估器件壽命、加強(qiáng)器件可靠性水平。試驗(yàn)數(shù)據(jù)會(huì)被收集以說明器件可靠性，同時(shí)對(duì)不合格品的每一個(gè)故障的原因進(jìn)行細(xì)致地分析，采取有效的糾正措施進(jìn)行閉環(huán)。
安路目前主要參考的規(guī)范如下（編號(hào)最新版本請(qǐng)查閱JEDEC官方網(wǎng)站）:
| 序號(hào) | 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài) | 標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | JESD22-A113 | 現(xiàn)行 | IC 集成電路壓力測(cè)試考核 |
| 2 | JESD22-A113 | 現(xiàn)行 | 塑封表貼器件可靠性試驗(yàn)前的預(yù)處理 |
| 3 | JESD22-A100 | 現(xiàn)行 | 循環(huán)溫濕度偏置壽命 |
| 4 | JESD22-A101 | 現(xiàn)行 | 穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命 |
| 5 | JESD22-A102 | 現(xiàn)行 | 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮 |
| 6 | JESD22-A103 | 現(xiàn)行 | 高溫貯存壽命 |
| 7 | JESD22-A104 | 現(xiàn)行 | 溫度循環(huán) |
| 8 | JESD22-A106 | 現(xiàn)行 | 熱沖擊 |
| 9 | JESD22-A110 | 現(xiàn)行 | 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（HAST）（有偏置電 壓未飽和高壓蒸汽） |
| 10 | JESD22-A118 | 現(xiàn)行 | 加速水汽抵抗性——無偏壓HAST（無偏置電 壓未飽和高壓蒸汽） |
| 11 | J-STD-002D | 現(xiàn)行 | 可焊性 |
| 12 | JESD22-B115 | 現(xiàn)行 | 焊球拉脫試驗(yàn) |
| 13 | JESD22-B116 | 現(xiàn)行 | 引線鍵合的剪切試驗(yàn) |
| 14 | JESD22-B117 | 現(xiàn)行 | 焊球剪切 |
| 15 | JESD78 | 現(xiàn)行 | 閂鎖測(cè)試 |
| 16 | JESD22- A108 | 現(xiàn)行 | 溫度、偏置度和使用壽命 |
| 17 | JS-001 | 現(xiàn)行 | 靜電放電靈敏度試驗(yàn)人體模型(HBM) |
| 18 | JS-002 | 現(xiàn)行 | 靜電放電靈敏度試驗(yàn)器件充放電模型(CDM) |
| 19 | J-STD-020 | 現(xiàn)行 | 非密封表面貼裝設(shè)備的濕度/回流靈敏度分級(jí) |
| 20 | JEDEC-SPP-024 | 現(xiàn)行 | 球柵陣列封裝的回流平整度要求 |
| 21 | JESD89-3 | 現(xiàn)行 | 高能光束加速軟失效測(cè)試要求 |
| 22 | JESD85 | 現(xiàn)行 | 計(jì)算器件故障率方法 |
器件壽命
器件壽命是指器件在符合規(guī)定的應(yīng)力環(huán)境下，各性能指標(biāo)或驗(yàn)收要求符合產(chǎn)品規(guī)格書的使用時(shí)間。通常一個(gè)器件的最薄弱部分決定了其壽命。當(dāng)器件失效率分布符合威布爾函數(shù)時(shí)，定義一個(gè)器件累計(jì)失效率在63.2%之下的時(shí)間作為該器件的特征壽命。我們用特征壽命曲線（浴缸曲線）來表示，其由以下三部分組成：
第一部分隨時(shí)間遞減的失效率，稱之為早夭（early failure）。
第二部分近似固定的失效率，稱為隨機(jī)失效（random failure）。
第三部分為超過其設(shè)計(jì)壽命后，隨時(shí)間遞增的失效率，稱為耗損失效（wear out）。
我們采用多種方法確保產(chǎn)品符合嚴(yán)格的質(zhì)量和可靠性目標(biāo)。可靠性是我們確保產(chǎn)品整體性能質(zhì)量的基石，我們?cè)谛庐a(chǎn)品、新工藝、新封裝的研發(fā)階段執(zhí)行了大量的可靠性測(cè)試，并持續(xù)監(jiān)控它們的可靠性，因此具備業(yè)界領(lǐng)先的FIT（壽命內(nèi)故障）比率。
安路通過 JESD85 （Methods for Calculating Failure Rates in Units of FITs）來統(tǒng)一衡量產(chǎn)品的失效。
其計(jì)算描述如下：
安路通過以上器件能夠承受的一套通用可接受的壓力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，評(píng)估器件在不同工作環(huán)境中使用的可靠性，以確保應(yīng)用環(huán)境下良好的可靠性表現(xiàn)。
可靠性數(shù)據(jù)
安路有極為可靠的監(jiān)管和預(yù)防計(jì)劃，可確保安路發(fā)出的所有產(chǎn)品都具有最佳質(zhì)量。安路利用一流的設(shè)備和技術(shù)，對(duì)每一項(xiàng)工藝執(zhí)行所有主要類型的可靠性測(cè)試。加速環(huán)境壓力測(cè)試的結(jié)果可外推至標(biāo)準(zhǔn)工作條件，預(yù)測(cè)有效產(chǎn)品壽命并確保我們的產(chǎn)品具有業(yè)界最高的可靠性等級(jí)。
如需獲得詳細(xì)的可靠性數(shù)據(jù)，請(qǐng)聯(lián)系銷售或者經(jīng)銷商。
